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產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)探針臺(tái)
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桌面式小型探針臺(tái)，配套了高精度PID溫度控制器，用戶可以清楚直觀地了解了整體系統(tǒng)相關(guān)位置的溫度情況，確保溫度測(cè)試的可靠性
更新時(shí)間：2024-03-26
產(chǎn)品型號(hào)：KT-0904T-RL
瀏覽量：1240
高低溫真空探針臺(tái)KT-Z160T-RL，用于霍爾效應(yīng)霍爾效應(yīng)測(cè)試儀、探針臺(tái)系列、顯微鏡系列測(cè)試儀、探針臺(tái)系列、顯微鏡系列
更新時(shí)間：2024-11-07產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1104
小型氣敏探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T，4探針手動(dòng)調(diào)節(jié)，純銀加熱臺(tái)，-196℃至350℃（溫控精確±0.5）
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z4019MRL4T瀏覽量：1360微型高低溫探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測(cè)試。-196℃~400℃（配液氮致冷模塊）氣密腔室設(shè)計(jì)，可通保護(hù)氣氛
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z4019MRL4T瀏覽量：1319
真空探針臺(tái)KT-Z160TZ，高溫真空腔探針系統(tǒng)主要用于為被測(cè)芯片提供一個(gè)低溫或者高溫的變溫測(cè)量環(huán)境，以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z160TZ瀏覽量：1309
